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Questa ricerca sviluppata nel corso di oltre quindici anni e, nell'ultimo decennio, in collaborazione con colleghi dell'Istituto di cristallografia di Trieste, presso il sincrotrone ELETTRA (dott. Luisa Barba e dott. Gianmichele Arrighetti) ha consentito di costruire un' apparato sperimentale sulla linea XRD1 specifico per film sottili (fino a 5 nm) in grado di determinare:
o grado di cristallinità, orientazione,
o dimensione e perfezione dei cristalliti ,
o struttura cristallina anche in presenza di polimorfi.
Importanti risultati sono stati conseguiti su film a singolo o multicomponente, multistrati di sistemi oligomerici e polimerici, blends con nanoparticelle, ibridi, inorganici etc.
Materiali utili impiegati in sensori, FET LED celle fotovoltaiche, etc.

foto 1

 

Immagine di diffrazione di raggi X in incidenza radente (GIXD) di un film sottile (50 nm) di copolimero F8BT su un substrato di NaPSS-Si ricotto a 270°C.

REFERENZE
Timpanaro S, Sassella A., Borghesi A., Porzio W., Fontaine P., Goldmann M. Adv. Mat. (2001) 13, 127-130.
Scavia G., Porzio W., Destri S., Barba L., Arrighetti G., Milita S., et al. Surface Science (2008) 602, 3106-15.
Porzio W., Scavia G., Barba L., Arrighetti G., Milita S., Eur. Pol. J. (2011) 47, 273-283.
Vohra V., Arrighetti G., Barba L., Higashimine K., Porzio W., Murata H., J. Phys. Chem. Lett. (2012) 3, 1820.
Porzio W., Scavia G., Barba L., Arrighetti G., McNeill C.R., Eur. Pol. J. (2014) 61, 172-185.
w.porzio@ismac.cnr.it                    www.ismac.cnr.it

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